Контурограф-профилограф XCR 20 — это совершенный прибор на базе ПК, соответствующий высшему уровню техники измерения поверхности. Объединяя функциональные возможности двух систем (профилографа XR 20 и контурографа XC 20) прибор XCR 20 является мощнейшей комбинированной системой измерения контура и шероховатости с использованием двух различных приводов.
Привод GD 25 обеспечивает возможность измерения шероховатости. Определяет более 75 параметров шероховатости, волнистости, Р-профиля и Motif-параметров в соответствии с международными нормами, как на производстве, так и на пунктах ОТК и измерительных лабораториях.
Благодаря системе безопорного щупа могут быть измерены не только параметры шероховатости поверхности, но и волнистости.
Привод PCV 200 обеспечивает возможность измерения контура.
Параметр |
Привод GD 25 |
Привод GD 120 |
Длина трассирования, мм |
25,4 |
120 |
Скорость измерения, мм/с |
0,1 - 0,5 |
0,1 - 0,5 |
Остаточное значение по Rz, нм |
менее 30 |
менее 30 |
Отклонение прямолинейности, мкм |
0,2 мкм на 20 мм |
0,15 мкм на 20 мм |
Разрешение |
± 25 мкм = 0,5 нм; |
± 25 мкм = 0,5 нм; |
Диапазон регулировки по высоте, мм |
4 |
10 |